ঢাবি ভর্তি পরীক্ষায় ইলেকট্রনিক ডিভাইস ব্যবহার; পরীক্ষার্থীদের কারাদন্ড

প্রথম প্রকাশঃ অক্টোবর ১৩, ২০১৭ সময়ঃ ৬:৫৯ অপরাহ্ণ.. সর্বশেষ সম্পাদনাঃ ৬:৫৯ অপরাহ্ণ

ঢাকা বিশ্ববিদ্যালয়ের (ঢাবি) বিজ্ঞান অনুষদভুক্ত ‘ক’ ইউনিটের ভর্তি পরীক্ষায় জালিয়াতির দায়ে ১২ পরীক্ষার্থীকে ১৫ দিনের কারাদণ্ড দিয়েছেন ভ্রাম্যমাণ আদালত। ঢাকা জেলা প্রশাসক কার্যালয়ের সহকারী কমিশনার ও নির্বাহী ম্যাজিস্ট্রেট তৌহিদ এলাহী এ কারাদণ্ড দেন।

বিশ্ববিদ্যালয় কর্তৃপক্ষ জানান, কারাদণ্ডপ্রাপ্তরা পরীক্ষার হলে মোবাইল ফোন ও অন্যান্য ইলেকট্রনিক ডিভাইস নিয়ে প্রবেশ করেছিল। এর মধ্যে অনেকে মাস্টার কার্ডের আদলে ডিভাইস নিয়ে প্রবেশ করে, যা দেখতে অনেকটা মাস্টার কার্ডের মতো। কিন্তু এতে সিম লাগানো থাকে। এর ছোট বল রয়েছে, যা কানের ভেতরে ঢুকিয়ে কথা বলা যায়।

শুক্রবার সকাল ১০টায় ‘ক’ ইউনিটের ভর্তি পরীক্ষা শুরু হয়। শেষ হয় বেলা সাড়ে ১১টায়। এ সময় জালিয়াতির অভিযোগে মোট ১২ জনকে আটক করা হয়।

বিনাশ্রম কারাদণ্ডপ্রাপ্তরা হলেন- নাহিদ হাসান কাওসার, তানভীর হোসাইন, রফিকুল ইসলাম, খন্দকার মিরাজুল ইসলাম, এস এম জাকির হোসাইন, আবু হানিফ নোমান, আল ইমরান, নূরে আলম আরিফ, সৌমিকা প্রতিচী সাত্তার, আরিফা বিল্লাহ তামান্না, শাহ পরান ও আবুল বাশার।

এ বছর ‘ক’ ইউনিটে ১ হাজার ৭৬৫টি আসনের জন্য আবেদন করেন ৮৯ হাজার ৫০৬ জন। বিশ্ববিদ্যালয় ক্যাম্পাস ও ক্যাম্পাসের বাইরের মোট ৮৭টি কেন্দ্রে পরীক্ষা অনুষ্ঠিত হয়।

প্রতিক্ষণ/এডি/শাআ

আরো সংবাদঃ